Вебинар "Автоматический оптический контроль CIMS (Camtek): подходы к оценке качества продукции"

Подходы к решению проблем оценки качества продукции при автоматическом оптическом контроле.
Подготовка исходных данных для AOI. Решение прикладных метрологических задач. Рекомендации по сбору статистики по результатам AOI инспекции для качественного анализа выполнения технологических операций.

Докладчик — инженер по внедрению ПО Евгений Олегович Жмакин.

Тайм-коды:
0:00:00 – Приветствие
0:02:55 – План вебинара
00:05:00 – О компании CIMS (Camtek)
0:06:42 – Продукты и решения от компании CIMS
0:08:30 – Доля CIMS в сегментах рынка печатных плат
0:09:45 – Клиенты CIMS
0:10:30 – Базовые платформы AOI систем компании CIMS
0:10:45 – AOI системы семейства Phoenix
0:11:27 – AOI системы семейства Galaxy
0:11:55 – Общее сравнение систем Phoenix и Galaxy
0:13:27 – Сравнение технологий Phoenix и Galaxy
0:14:00 – Процесс подготовки данных CIMS и Orbotech
0:17:15 – Интерфейс пользователя AOI manager (Spark)
0:19:37 – Инспекция и верификация
0:23:05 – Видео процесса (пример работы AOI)
0:25:25 – Дополнительные опции AOI систем
0:38:30 – Вспомогательные продукты и решения CIMS
0:40:57 – Виртуальная верификация дефектов VVS
0:43:30 – Видео (пример работы VVS)
0:45:02 – Станция верификации и ремонта дефектов CVR
0:45:37 – Комбинированная станция виртуальной и физической верификации и ремонта VVR
0:46:00 – Режим переключения между AOI и видеоизображениями
0:47:30 – Специальные продукты и решения CIMS
0:50:45 – Блок-схема интеграции и обмена данными
0:54:15 – Ответы на вопросы